全新一代 | 極致性價比:低成本短波紅外工業(yè)相機首選
—MV-GEC30I—
InGaAs探測器|千兆網(wǎng)口|支持ROI
產(chǎn)品特色:
·InGa As探測器,響應(yīng)波長0.4~1.7um
·黑電平矯正,圖像均勻性好
·千兆網(wǎng)接口,兼容vision標(biāo)準(zhǔn)
·專為低照度科研短波紅外成像和顯微成像設(shè)計
·分辨率640*512,幀率可達(dá)241FPS,支持ROI
·免驅(qū)直接支持halcom、visionpro等軟件,易于系統(tǒng)集成
產(chǎn)品參數(shù):
分辨率&幀率 | 640×512&241FPS | 相機類型 | 黑白 |
傳感器類型 | 1/4″CMOS | 像元尺寸 | 5.0um×5.0um |
快門類型 | 全局快門 | 有效像素 | 30萬 |
靈敏度 | 121mv1/30s | 最大增益 | 126(倍數(shù)) |
曝光時間范圍 | 0.007~2150.4ms | 采集模式 | 連續(xù)/軟觸發(fā)/硬觸發(fā) |
功率 | <12W(包含制冷) | 外形尺寸 | 69×69×44mm |
重量 | <500 | 制冷工作 | 半導(dǎo)體制冷,可制冷環(huán)境溫度差20度 |
工作溫度 | 0~40℃ | 工作濕度 | 20~80%(無凝結(jié)) |
儲存溫度 | -30~60℃ | 鏡頭接口 | C口 |
光譜圖:
應(yīng)用領(lǐng)域:
應(yīng)用案例:
01|檢測水分
水在SWIR波段具有明顯的吸光條帶
因此可輕松檢測出水果和蔬菜上的瘀傷
02|檢測異物
在SWIR波段范圍內(nèi),物質(zhì)會表現(xiàn)獨特的反射光譜,方便可靠地檢測雜質(zhì)成分
03|巧用SWIR波段透明度
硅基材料和某些聚合物在SWIR波段呈現(xiàn)透明狀
基于這種透明狀態(tài),可檢測晶圓或封裝集成電路等產(chǎn)品以及不透明容器(例如容器中的料位檢測)
此外,邁德威視為您提供多種型號的短波紅外工業(yè)相機,滿足您的選擇需求。想了解更多具體型號,請訪問邁德威視官網(wǎng)sus420j2.cn