突破局限,“洞見”不可見
?500萬像素?
短波紅外工業(yè)相機(jī)
—MV-GEC500I—
InGaAs探測(cè)器 | 千兆網(wǎng)口 | 支持ROI
產(chǎn)品參數(shù):
產(chǎn)品特色:
光譜更寬,洞悉更多
?光譜圖:
黑電平矯正,圖像均勻性好
千兆網(wǎng)接口,兼容VISION標(biāo)準(zhǔn)
應(yīng)用領(lǐng)域:
案例分析:
01 | 水果檢測(cè)
水在SWIR波段具有明顯的吸光條帶
因此可以輕松檢測(cè)出水果和蔬菜上的瘀傷。
02 | 半導(dǎo)體硅片檢測(cè)
硅在SWIR波段呈透明狀。但在波段1.5um的短波紅外下,相機(jī)能夠拍攝到硅片的底層結(jié)構(gòu)
可用于檢測(cè)硅片的隱裂等缺陷。
03 | 專為低照度科研短波紅外成像和顯微鏡成績(jī)?cè)O(shè)計(jì)
硅作為一種間接帶隙的半導(dǎo)體材料,能夠傳輸較低能量的SWIR光波,這使得半導(dǎo)體晶圓在短波紅外光譜范圍內(nèi)呈現(xiàn)透明狀
基于這種透明狀態(tài),可檢測(cè)晶圓或封裝集成電路等產(chǎn)品以及不透明容器(例如容器中的料位檢測(cè))
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